高低溫試驗(yàn)箱資料下載

一、產(chǎn)品概述： 
  
HJW/T 系列試驗(yàn)箱于電工、電子產(chǎn)品及其元器件、其它材料在低溫的環(huán)境下貯 
  
存、運(yùn)輸、使用時(shí)的可靠性試驗(yàn)。該設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定 要求，在低溫的條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，通過檢測(cè) 來判斷產(chǎn)品的性能，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、簽訂及出廠檢驗(yàn)之用，性能指標(biāo)符合 GB /T5170.2.5、GB5170.18《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的要求。 
  二、技術(shù)參數(shù)： 
  
1、型 號(hào)：HJW/T-150L 
2、工作室尺寸：500 深×500 寬×600 高 mm 
3、溫度 范圍： -20℃～150℃
 4、溫度均勻度：≤±2℃ 
5、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃ 
6、降 溫 速率：≥0.7-1℃ /分鐘